列真公司在半导体光罩检测设备上积累了独自技术， 主产品 LODAS ™系列具有日本专利权的激光检测技术，可同时探测收集激光的反射光，透射光以及共聚焦，可一次性检查第三代半导体 SIC 等材料表面，背面和内部的缺陷，可探测最小缺陷为10
产品货号：LODAS 产地：日本 价格：询价 点击数：4064 商家询价
应力双折射测量系统WPA-200可测量相位差高达3500nm，适合PC高分子材料，是Photonic lattic公司以光子晶体制造技术开发的产品，独特的测量技术，高速而又精确的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。
产品货号：WPA-200 产地：日本 价格：询价 点击数：3146 商家询价
PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其专利技术的光子晶体偏光阵列片
产品货号：PA-300 产地：日本 价格：询价 点击数：2861 商家询价
PHL偏振相机， PHL PI-110 偏振光相机能轻松连接到电脑，实​时观察到极化情况，自带软件，可以输出亮度，极化强度，偏振方向，方便地进行定量分析。   
产品货号：Micro Support Axis Pro 产地：日本 价格：询价 点击数：4008 商家询价
WPA系列可测量相位差高达3500nm，适合PC等高分子材料，是Photonic lattic公司以光子晶体制造技术开发的产品，独特的测量技术，高速而又精确的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。
产品货号：WPA-200-L 产地：日本 价格：询价 点击数：2395 商家询价
PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其专利技术的光子晶体偏光阵列片，独有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能
产品货号：PA-Micro 产地：日本 价格：询价 点击数：5332 商家询价
硫系，红外树脂等材料对可见光不透过，这样的样品残余应力评估很难实现，为此Photonic Lattece 专门研制了WPA-NIR双折射测量仪，采用850nm或940nm波长，能高速的测量和分析近红外材料的双折射/残余应力分布，安装既有的操作简单和实用的软件WPA-View，可以自由
产品货号：WPA-NIR 产地：日本 价格：询价 点击数：5960 商家询价
镜片的双折射现象会造成镜片成像性能（MTF）下降，智能手机所使用的镜片需要高解析度，因此需要减少双折射的影响，了解镜片的双折射的大小，是镜片生产过程中不可缺少的，WPA-200-MT正符合这样的需求，并能高速完成各项测量。
产品货号：WPA-200-MT 产地：美国 价格：询价 点击数：5859 商家询价
PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。
产品货号：PA-300-L 产地：日本 价格：询价 点击数：2391 商家询价
日本Lasertec公司以双共聚焦光学系为基础，搭载微分干涉观察，垂直白光干涉测定，相差干涉测定，反射分光膜厚测定等功能，通常多台设备才能完成的测试，仅需一台设备即可实现。  
产品货号：OPTELICS HYBRID+ 产地：日本 价格：询价 点击数：2591 商家询价